测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
EXTRA系列半动影像测量仪为客户提供超越一般产品的测量功能与用户体验。机身结构轻量化处理,让结构变得更为紧凑,同时保持高刚性,高稳定性的机械特性,在最少占用空间的情况下获得最大的测量范围
软件操作
技术参数
项目 | EXTRA 300 |
|
外型尺寸(mm) |
600 X 740 X 980 |
|
测量范围(mm)(X*Y*Z) |
300*200*200 |
|
测量精度(μm) |
2.5+L/200 |
|
重复精度(μm) |
2.5 |
|
仪器重量(kg) |
190 |
|
影像及测量 |
CCD |
120万像数字相机 |
物镜 |
手动电子反馈信号变倍镜头0.7-4.5X |
|
总放大倍率 |
18-195X(根据选配相机的不同型号,其放大倍率随之改变;实际倍率以实测数据为准) |
|
物方视场 |
8.1~1.3mm(根据相机与镜头的不同搭配方案,视场大小会随之改变,实际视场以实测数据为准) |
|
工作距离 |
90mm |
|
光栅尺解析度 |
0.5μm |
|
驱动系统 |
X/Y轴手动控制,Z轴CNC全闭环运动控制(含自动对焦功能) |
|
照明光源 |
可程控LED四分区环形表面光,LED底部平行光(可选配:八分区环形光、同轴光) |
技术手册下载
相关技术手册下载应用领域
应用于多种领域